蔡司推出全新FIB雙束電鏡 Crossbeam 550 Samplefab
作為一款專為半導體行業 TEM 樣品制備開發的高端聚焦離子束掃描電子顯微鏡(FIB-SEM)Crossbeam 550 Samplefab 提供優異的靈活性自動化功能和用戶友好設計,幫助半導體行業的樣品制備更加簡便高效。
全新界面
用戶友好的軟件操作體驗
配備直觀的行業標準圖形用戶界面
軟件功能模塊高度整合,輕松上手
無論是專家還是新手,都能擁有友好的操作體驗
配置優化
提升設備和軟件的穩定性
專門為半導體行業 TEM 樣品制備而優化的配置方案
提高了設備和軟件的穩定性
確保樣品制備的持續穩定工作,提高實驗室產出
全新體驗
全自動TEM樣品制備流程
蔡司雙束電鏡 Crossbeam 550 Samplefab
提供了全自動解決方案
實現無人值守的多點位TEM薄片制備
旨在優化工作流程,一位操作員即可控制多臺設備
最大化生產力并確保樣品質量
多樣制備
滿足原位/非原位樣品需求
具備強大的原位(in-situ,lift-out)與
非原位(ex-situ,pick-up)樣品全自動制備能力
適應各種制樣方法的多樣需求
靈活操作
自由選擇手動/自動制樣
既支持手動操作也支持自動操作,適應用戶偏好在手動或自動工作流程中均能提供高質量結果。
憑借其優異的靈活性、自動化制樣功能以及用戶友好設計和穩定性,蔡司掃描電鏡 Crossbeam 550 Samplefab 將顯著 提高半導體樣品制備的效率與精度,幫助工程師完成日常的高產量 TEM 薄片樣品制備。
蔡司致力于通過創新的技術解決方案,不斷推動半導體行業邁向更高效、更精確的樣品制備新時代。
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